| |
|
| 首頁(yè) > 服務(wù)中心 > 技術(shù)文章 |
| |
| >>高低溫試驗(yàn)箱選購(gòu)參照標(biāo)準(zhǔn) |
| 高低溫試驗(yàn)箱選購(gòu)參照標(biāo)準(zhǔn) |
|
| 時(shí)間：2013/2/28 |
| |
高低溫試驗(yàn)箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)方法》適用于按GB/T2423.1.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度試驗(yàn)；
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則等相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
感謝您對(duì)“雅士林”的關(guān)注,如需下載相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)登陸雅士林官方網(wǎng)站：http://m.tzhongrui.com |
|
| |
 |
相關(guān)資料 |
|
|
|
|
| |
|
|
